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基礎信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國是德KEYSIGHT E5061B網(wǎng)絡分析儀

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-08-19

產(chǎn)品簡介：

專業(yè)為祖國用戶提供美國是德KEYSIGHT E5061B網(wǎng)絡分析儀儀器設備、測試方案、技術(shù)培訓、維修服務，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導向的儀器設備綜合服務商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

      專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent技術(shù)工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY應用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術(shù)支持為特色的代理貿(mào)易公司，志在破舊立新！*進口儀器設備大多廠家僅在國內(nèi)設銷售點，技術(shù)支持薄弱或者沒有，而代理經(jīng)銷商也只專業(yè)做商務銷售，不專業(yè)做售前儀器設備選型配置/測試方案系統(tǒng)搭建，不專業(yè)做售后操作使用培訓/維修校準保養(yǎng)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們*進*的經(jīng)營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術(shù)培訓、維修服務，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導向的儀器設備綜合服務商。

美國是德KEYSIGHT E5061B網(wǎng)絡分析儀主要特性參數(shù)

豐富的測試儀選件，您可以選擇適合自身測試需求的配置：100 kHz 至 1.5 GHz/3 GHz，2 端口，50 或 75 Ω，傳輸/反射或 S 參數(shù)測試儀

使用低頻-射頻選件（選件 3L5/3L4/3L3）滿足各類應用需求：5 Hz 至 3 GHz，2 端口，50 Ω，S 參數(shù)測試儀，增益相位測試端口，內(nèi)置的直流偏置源

在單一儀器中整合了網(wǎng)絡分析和阻抗分析兩大功能，可以定制您的應用（選件 3L5/3L4/3L3 和 005）

大頻率 3 GHz

動態(tài)范圍 120 dB

輸出功率 10 dBm

內(nèi)置端口數(shù)量 2 端口

諧波 -25 dBc

掃描速度可達 201 個點 9毫秒

元器件

電纜

放大器

諧振器

直流-直流轉(zhuǎn)換器/PDN

天線/線圈/RFID

濾波器

LCR 元器件

美國是德KEYSIGHT E5061B網(wǎng)絡分析儀性能

射頻元器件測試所需的穩(wěn)定性能

在增益相位測試端口上進行的 DC-DC 轉(zhuǎn)換器環(huán)路增益測量：E5061B-3L5

阻抗分析儀和矢量網(wǎng)絡分析儀集于一體：E5061B-3L5，選件 005

不同測試夾具上的電子元件測量：E5061B-3L5，選件 005

網(wǎng)絡分析儀軟件工具可對設計進行調(diào)查、表征和故障診斷

放大器、濾波器、混頻器、材料、高速串行互連分析能力等

適用于 PNA、ENA 和 USB 網(wǎng)絡分析儀

用于 E5061B ENA LF-RF 矢量網(wǎng)絡分析儀的阻抗分析選件（選件005） 用于 E5061B ENA LF-RF 矢量網(wǎng)絡分析儀的阻抗分析選件（選件005）

為配有選件 3L3/3L4/3L5 的 E5061B ENA LF-RF 矢量網(wǎng)絡分析儀提供阻抗分析功能

兼容各種不同的元器件測試夾具

能夠?qū)y試夾具進行校準/補償

等效電路分析

 E5061B-010 時域分析/故障定位分析 E5061B-010 時域分析/故障定位分析

對時域反射或傳輸響應進行全面的誤差校正

可以利用低通或帶通模式，執(zhí)行多 1,601 個點的測量

可以使用選通來減少多余的響應

經(jīng)常一起購買

  射頻校準套件（頻率 13.5 GHz） 射頻校準套件（頻率 13.5 GHz）

校準元件，專為 13.5 GHz 及以下頻率的 VNA 產(chǎn)品系列提供精密校準而設計

包括經(jīng)濟型和精密型校準套件，對 50 Ω 和 75 Ω 器件進行校準

16201A 7 mm 端子適配器套件 16201A 7 mm 端子適配器套件

該適配器可以用于連接 E5061B-3L5/3L4/3L4 低頻-射頻網(wǎng)絡分析儀與 7 mm 測試夾具

E5061B-005 阻抗分析選件提供阻抗測量功能

能夠兼容阻抗分析儀的各種元器件測試夾具