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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：英國Wayne Kerr介電常數(shù)阻抗分析儀測試方案

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-08-19

產(chǎn)品簡介：

電阻電容電感值測量，阻抗參數(shù)評估和性能分析，晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析，介電常數(shù)和損耗角評估，導磁率和損耗，導電率和C-V特性，英國Wayne Kerr介電常數(shù)阻抗分析儀測試方案

產(chǎn)品特性Product characteristics

電阻電容電感值測量，阻抗參數(shù)評估和性能分析，晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析，介電常數(shù)和損耗角評估，導磁率和損耗，導電率和C-V特性，英國Wayne Kerr介電常數(shù)阻抗分析儀測試方案：

英國穩(wěn)科Wayne Kerr，美國是德KEYSIGHT E4980A LCR電橋/阻抗分析儀，0.05%精度，500kHz/1MHz/2MHz/5MHz/10MHz/20MHz/50MHz/120MHz頻率。

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企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用編撰了《集成芯片I2C、SPI測試》、《存儲器SD3.0、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB2.0、UART測試》、《CAN、LIN、MVB、WTB汽車總線測試》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體I²S、HDMI、S/PDIF測試》、《GB/T國標、ANSI/ASTM美標絕緣材料電阻和電阻率測試》、《防靜電工作臺面/地板/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范測試靜電電阻》、《電子電器/帶靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標準靜電場電壓、靜電消散時間測試》、《英國Wayne Kerr介電常數(shù)阻抗分析儀測試方案》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進半導體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導體晶體管特性曲線分析》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《循環(huán)伏安法CV電化學實驗系統(tǒng)測試站電流-時間曲線I-t》、《精密電流源/納伏表微小電阻測試》、《LED照明測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《電氣耐壓絕緣接地電阻泄漏電流測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》、《高低溫/恒溫恒濕/冷熱沖擊試驗》、《樹脂、涂料、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)應(yīng)用解決方案文獻，為電子測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻。