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eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert
日期：2016-06-07瀏覽：3113次
eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert原理就是并聯(lián)的方式，看以看到波形及解碼數(shù)據(jù)；Bus Expert多一個(gè)協(xié)議分析的功能（PA模式），可以錄很長(zhǎng)的命令及數(shù)據(jù)，幾小時(shí)，或兩天的時(shí)間。至于需要額外購買的host端，用戶一般都是在相關(guān)的電子論壇找到，購買回開發(fā)板后根據(jù)自己的需要進(jìn)行一些改進(jìn)。參考如http://www.elecfans。。ｃｏｍ/emb/364544_4.html型號(hào)：ODROID-XU3
eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert因篇幅介紹有限，需要了解更多信息資料可與我們。
eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert時(shí)序分析功能(Logic Analyzer mode)
Event trigger事件觸發(fā)：3階CMD sequence事件設(shè)定；CRC error觸發(fā)；Busy Time觸發(fā)。(for eMMC)
協(xié)定封包觸發(fā)；NCR…等時(shí)序格式；1、4、8 bit數(shù)據(jù)格式；支援HS400 Mode
eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert協(xié)議分析功能(Protocol Analyzer mode)
Events log: 小時(shí)→天等級(jí)的紀(jì)錄長(zhǎng)度(250M records)；CMD / Addr / Arg / Data / status封包結(jié)構(gòu)查找；CRC error、CMD response error問題訊號(hào)快速查找。
eMMC5.1協(xié)議分析儀Bus Expert自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目隨JEDEC規(guī)格進(jìn)化
Device Identification Mode；Data Transfer Mode；Read/Write Data Comparison；Packet Statistics…等。
eMMC5.1協(xié)議分析儀軟件仿真校正功能
軟件內(nèi)含625 ps精度時(shí)序飄移(timing shift)校正，排除微小的取樣點(diǎn)頻率誤差所造成訊號(hào)解析錯(cuò)誤。
產(chǎn)品規(guī)格
取樣頻率 內(nèi)部(時(shí)序)(異步) 1.6 GHz (625 ps)
外部(狀態(tài))(同步) 200 MHz
待測(cè)信號(hào) eMMC5.1(兼容eMMC5.0以下）eMMC4.51, eMMC5.0, SD3.0(protocol decoder)
帶寬: 200MHz
觸發(fā)電壓范圍: 1.2V / 1.8V / 3.3V
內(nèi)存 內(nèi)存容量: 32 Gbits
每信道內(nèi)存深度: 2 Gbits
觸發(fā) 觸發(fā)方式: 字符、信道、轉(zhuǎn)態(tài)
觸發(fā)階層: 48階
總線觸發(fā): eMMC5.1(兼容eMMC5.0以下）
觸發(fā)計(jì)數(shù): 1 ~ 65535
支持系統(tǒng) Windows 2000 / XP(32bits) / Vista / Win 7
傳輸接口 USB2.0(1.1)
電源 AC100~240V , 50~60Hz
產(chǎn)品體積 251mm * 182mm * 40mm
注意 需搭配本公司之『eMMC 5.0 Probe』探棒使用。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 表面電阻和體積電阻率測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 美國BK PRECISION
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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